Mikrotomschnitt/ Querschnittsdarstellung
Querschnittsdarstellung von Folien, Formteilen, Siegelnähten etc., einschließlich Bemaßung sichtbarer Schichten, im Auflicht- oder Durchlichtmikroskop (akkreditierte Prüfung).
Standardprüfungen
Mikroskopie, allgemein, Schichtdickenbestimmung, ohne Heiztisch
Spezifische Norm: Hausverfahren PV049
Diese Methode bitte auswählen für mikroskpoische Untersuchungen an Mikrotomquerschnitten bei Raumtemperatur, z.B. Schichtdickenmessungen.
Mikroskopie, Schmelzpunktbestimmung mit Heiztisch
Spezifische Norm: DIN EN ISO 3146
Diese Methode bitte auswählen für die mikroskopische Bestimmung von Schmelztemperaturen von Einzelschichten in Mehrschichtfolien.
